觸摸屏大電流互感器綜合校驗儀迎來新的發(fā)展契機
觸摸屏大電流互感器綜合校驗儀迎來新的發(fā)展契機一.設計用途
設計用于對保護類、計量類CT/PT進行自動測試，適用于實驗室也適用于現(xiàn)場檢測。
二.參考標準
GB 1207-2006、GB 1208-2006
觸摸屏大電流互感器綜合校驗儀迎來新的發(fā)展契機三.主要特征
• 支持檢測CT和PT
• 滿足 GB1207、GB1208等規(guī)程要求.
無需外接其它輔助設備，單機即可完成所有檢測項目.
• 自帶微型快速打印機、可直接現(xiàn)場打印測試結果.
• 操作簡便，帶有智能提示，使用戶更易上手操作。.
• 大屏幕液晶，圖形化顯示接口.
• 按規(guī)程自動給出CT/PT（勵磁）拐點值.
• 自動給出5%和10%誤差曲線.
• 可保存3000組測試資料，掉電后不丟失.
• 支持U盤轉存資料，可以通過標準的PC進行讀取，并生成WORD報告.
• 小巧輕便≤22Kg，非常利于現(xiàn)場測試.
觸摸屏大電流互感器綜合校驗儀迎來新的發(fā)展契機四．測試儀主要測試功能：（見表1）
CT（保護類、計量類） | PT |
• 伏安特性（勵磁特性）曲線 | • 伏安特性（勵磁特性）曲線 |
• 自動給出拐點值 | • 自動給出拐點值 |
• 自動給出5%和10%的誤差曲線 | • 變比測量 |
• 變比測量（電壓法電流法兼容） | • 極性判斷 |
• 比差測量 | • 比差測量 |
• 相位（角差）測量 | • 相位（角差）測量 |
• 極性判斷 | • 交流耐壓測試 |
• 一次通流測試 | • 二次負荷測試 |
• 交流耐壓測試 | • 二次繞組測試 |
• 二次負荷測試 | • 鐵心退磁 |
•二次繞組測試 | |
• 鐵心退磁 |
表1
觸摸屏大電流互感器綜合校驗儀迎來新的發(fā)展契機五. 測試儀主要技術參數(shù)： （見表2）
項 目 | 參 數(shù) | |
工作電源 | AC220V±10% 、50Hz | |
設備輸出 | 0～2500Vrms， rms（20A峰值） 注：0～為真實值，大于～20A為計算值 | |
大電流輸出 | 0～600A | |
勵磁精度 | ≤0.5%（0.2%*讀數(shù)+0.3%*量程） | |
二次繞組 電阻測量 | 范圍 | 0.1～300Ω |
精度 | ≤0.5%（0.2%*讀數(shù)+0.3%*量程） | |
二次實際 負荷測量 | 范圍 | 5～500VA |
精度 | ≤0.5%（0.2%*讀數(shù)+0.3%*量程）±0.1VA | |
相位測量 （角差） | 精度 | 4min |
分辨率 | 0.1min | |
比差 | 精度 | 0.05% |
CT 變比測量 | 范圍 | ≤25000A/（5000A/1A） |
精度 | ≤0.5% | |
PT 變比測量 | 范圍 | ≤500KV |
精度 | ≤0.5% | |
工作環(huán)境 | 溫度：－10℃ ～ 40℃，濕度：≤90%，海拔高度：≤1000m | |
尺寸、重量 | 尺寸：410mm × 260mm × 340mm ， 重量：≤22Kg | |
表2
5.1．工作條件要求
輸入電壓 220Vac±10%、額定頻率 50Hz；
測試儀應該由帶有保護接地的電源插座供電。如果保護地的連接有問題，或者電源沒有對地的隔離連接，仍然可以使用測試儀，但是我們不保證安全；
參數(shù)對應的環(huán)境溫度是23℃±5℃；
保證值在出廠校驗后一年內(nèi)有效。
伏安特性測試儀是公司在成功開發(fā)互感器校驗儀的基礎上，詳細分析互感器的數(shù)學模型而開發(fā)出的互感器現(xiàn)場測試儀器。伏安特性測試儀可按國家標準測量CT伏安特性及曲線、5%、10%誤差曲線、直阻、變比極性;可直接測量電壓互感器的變比;可定性測量電壓互感器的比差和極性;可現(xiàn)場測量電流和電壓互感器的實際二次負荷等等。伏安特性測試儀采用高精度、自動線性調(diào)節(jié)的直流和交流電源;高速、高可靠性的數(shù)字處理模塊;高測量精度、高穩(wěn)定性的前置測量電路保證了儀器測量的準確度和高穩(wěn)定度。另外，伏安特性測試儀采用本公司研制出的320x240大液晶全中文界面平臺技術，伏安特性測試儀具有人性化的人機界面，提示接線和操作，且伏安特性測試儀具有任何測量參數(shù)保存和測量結果打印的功能。
伏安特性測試儀可測量電流和電壓互感器的現(xiàn)場二次負荷，伏安特性測試儀可測量該負荷下的電流互感器的比差和角差。自帶大屏幕圖形LCD、全漢化圖形面:清晰美觀，直觀方便。 測試時直接顯示伏安曲線圖，自帶熱敏打印機，伏安特性測試儀可快速打印曲線圖及測試數(shù)據(jù);也能隨時存儲測試數(shù)據(jù)。
